HORIBA Smart SE智能型多功能椭偏仪仪器介绍:多功能性设计,配置灵活,具备多角度测量能力,可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单,快速,精确表征和分析的工具。技术参数:· 光谱范围:450-1000nm·......
膜厚测试仪椭偏仪应力双折射仪,能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。 日本Photonic-lattice公司成立于1996年,以日本东北大学的光子晶......
FE-5000椭圆偏振光测量仪纳米级的薄膜膜厚测量·非接触非破坏实现多层膜的解析材料表面光学常数(折光率、消光系数)测量·可求得膜厚以及光学定数的波长分散(膜厚,折射率,消光系数,tanΨ、cosΔ)·提供膜厚管理膜质管理有用的信息通过40......
以往的椭偏仪是单点测试,因此要取得整面膜厚均匀性数据是需要N个小时的工作,而且最小的测量分辨率就是激光光斑大小,也就是说,无法取得微小区域的膜厚分布数据。ME-210是采用独自开发的微小偏光阵列片来克服上述两大问题的设备。ME-210能做的......