特点 123 eV FWHM Resolution @ 5.9 keV 高计数率 >1,000,000 CPS 超高峰背比 - 26,000:1 Be window (0.5mil) 或可以配套......
Amptek FAST SDD™ C2 窗口针对SEM应用开发x - 123 sdd与c2窗口应用SEM EDS图1,X -123快速SDD™C2窗口光谱仪结合真空装置Amptek推出全新SDD探测器,针对扫描电镜能谱仪客户应用(EDS S......
AMPTEK生产最新OEM完整封装系统手持式或者台式XRF(X射线荧光)分析仪器的理想选择 系统包括:1. 探测器; &nb......
X-123——封装于可手持小金属盒内的完整X射线探测系统。RoHS/WEEE标准X射线荧光分析测试中使用的理想系统。无需液氮。图1。图2。图3. 6mm2/500µm(探测器有效面积/厚度)的探测器得到的55Fe能谱。 包含:1.......
X射线系统的OEM解决方案X射线荧光分析变得容易兼容 RoHS/WEEE标准的理想探测器Amptek提供了一条OEM探测器、前置放大器(前放)、数字处理器和电源的完整生产线。Amptek接受用户定制仪器。请联系Amptek公司以获取更多信息......
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特点 123 eV FWHM Resolution @ 5.9 keV 高计数率 >1,000,000 CPS 超高峰背比 - 26,000:1&nb......
Amptek FAST SDD™ C2 窗口针对SEM应用开发Amptek推出全新SDD探测器,针对电子显微镜能谱仪客户应用(EDS SEM)利用全新技术“C”系列X射线窗口(Si3N4),能够对低能量区域元素快速响应,新Amptek SD......