Amptek FAST SDD C2 window/快速硅漂移探测器SEM应用
价格：面议

Amptek FAST SDD C2 window/快速硅漂移探测器SEM应用

产品属性

  • 品牌Amptek
  • 产地美国
  • 型号 X-123 FAST SDD C2 window
  • 关注度41
  • 信息完整度
  • 产地美洲
  • 供应商性质生产商
  • 产地类别进口
  • 仪器种类
  • 价格范围
  • 行业专用类型
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产地：美国； 品牌：Amptek

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产品描述

Amptek FAST SDD™ C2 窗口针对SEM应用开发

Amptek推出全新SDD探测器，针对电子显微镜能谱仪客户应用（EDS SEM）利用全新技术“C”系列X射线窗口(Si3N4)，能够对低能量区域元素快速响应，新Amptek SDD™可以很好的测试元素碳(C)，高效率快速SDD™是EDS光谱仪最理想的方案。


 


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