相容 Microsoft Windows 作业系统之软体 使用X萤光射线可作非接触非破坏快速分析膜厚 拥有多种Filter选择性 各种样品单层至多层(5层),合金膜厚与溶液均可量测 定点自动定位分析 光径对准全自动化 影像重叠功能 自动显示......
产品详情技术指标 型 号DG-XRF-100元素分析范围硫(S)-铀(U)含量分析范围1ppm~99.99%工作稳定性总荧光强度为 0.1%最低检出限Cd/Cr/Hg/Br≤......
产品详情产品特点:* 本机专门针对ROHS、EN71等环保指令设计得一款产品。* 打破传统仪器直线的设计,采用流线体的整体化设计,仪器时尚大方。* 采用美国最新型的Sipin探测器,电致冷而非液氮制冷,体积小、数据分析准......