SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台(Spectroscopic Ellipsometer Metrology Station)产品描述SE2000全光谱椭偏测试平台基于椭圆偏振测试技术,采用先进的旋转补偿器,结合光纤专li技术......
LE-103PV 激光型椭偏仪(Laser Ellipsometer)产品描述LE-103PV激光型椭偏仪基于椭圆偏振测试技术,通过测试线偏振光经过样品反射后偏振态振幅和相位的改变,建立样品相应光学模型,计算出薄膜的厚度、折射率和消光系数。......
Bruker FilmTek CD椭偏仪——多模态临界尺寸测量和先进薄膜计量学 FilmTekTM CD光学临界尺寸系统是我们的领先解决方案,可用于1x nm设计节点及更高级别的全自动化、高通量CD测量和高级薄膜分析。该系统同时提......
Bruker 椭偏仪 FilmTek 2000M TSV——用于半导体封装应用中高通量测量的先进计量系统 FilmTek™ 2000M TSV计量系统为先进的半导体封装应用提供了无与伦比的速度和精度组合。该系统为各种封装工艺和相关......
Bruker椭偏仪 FilmTek 6000 PAR-SE——用于IC器件开发和制造的先进多模薄膜计量学想了解相关产品,可联系上海尔迪仪器科技有限公司,拨打电话021-61552797FilmTek™ 6000标准杆数-SE先进的多模薄膜计......
Bruker椭偏仪FilmTek 2000 PAR-SE——用于几乎所有先进薄膜或产品晶片测量的先进多模计量 FilmTek™ 2000标准杆数-SE光谱椭圆偏振仪/多角度反射仪系统结合了尖端和专有的FilmTek技术......
LE-103PV 激光型椭偏仪(Laser Ellipsometer),布鲁克
LE-103PV是Semilab针对光伏市场推出的一款低成本、高集成度的革新型产品,主要应用于测试具有绒面结构的晶体硅减反射膜的厚度和光学特性。测试软件操作简单、界面友好、所使用的光学模型与Semilab全光谱椭偏仪丰富的数据库相兼容,方便......
LE-103PV 激光型椭偏仪(Laser Ellipsometer),布鲁克
LE-103PV 激光型椭偏仪(Laser Ellipsometer)产品特点可测量减反射膜厚度、折射率和消光系数等光学特性稳定、可自动校准的集成光路优化设计的156mm多晶和单晶测试平台,方便用户转换单晶和多晶测量自动变换入射角的设计提高......
LE-103PV 激光型椭偏仪(Laser Ellipsometer),布鲁克
LE-103PV 激光型椭偏仪(Laser Ellipsometer)主要应用太阳能电池片减反射膜的厚度、折射率和消光系数测试二氧化硅等介质膜的厚度、折射率和消光系数测试透明材料的光度学测试主要技术指标激光波长: &n......
SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台,布鲁克
SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台(Spectroscopic Ellipsometer Metrology Station)、SE2000全光谱椭偏测试平台是Semilab针对产线和实验线推出的多功能高速测试平台。模块化的设......