膜厚测试仪椭偏仪应力双折射仪,能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。 日本Photonic-lattice公司成立于1996年,以日本东北大学的光子晶......
UVISEL2是一款完全革新的全自动光谱型椭偏仪。继承并发展了经典机型UVISEL的高准确性、高灵敏度和高稳定性等技术特点的同时,配备革新的可视系统,多达8个尺寸微光斑选项,最小达35×85μm2,适用于所有薄膜材料研究领域。是目前市场上独......
仪器介绍:在镀膜或刻蚀的过程中,实时监测样品膜的膜厚以及光学常数(n,k)变化。 技术参数:·可实现快速、实时在线监测样品膜层变化 主要特点:将激发和探测头引入生产设备,可实现:· 动态模式:实时监测膜厚变化· 光谱模式......
新型的全自动薄膜测量分析工具,工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成全自动测量和分析,并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。技术参数: ·光谱范围:450-1000 nm·多种微光斑自动选择·专利光斑可视......
仪器介绍:多功能性设计,配置灵活,具备多角度测量能力,可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单,快速,精确表征和分析的工具。技术参数:· 光谱范围:450-1000nm· 多种微光斑自动选择· 专利光斑可视技术,可观测......
以往的椭偏仪是单点测试,因此要取得整面膜厚均匀性数据是需要N个小时的工作,而且最小的测量分辨率就是激光光斑大小,也就是说,无法取得微小区域的膜厚分布数据。ME-210是采用独自开发的微小偏光阵列片来克服上述两大问题的设备。ME-210能做的......