SEMILAB-全光谱椭偏仪GES5E (Spectroscopic Ellipsometer)SEMILAB成立于1989年,总部位于匈牙利布达佩斯,为生产、研发中心,客户遍布全球。在欧洲、和亚洲主要国家都设有分支机构, 在美国设有工厂和......
SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台(Spectroscopic Ellipsometer Metrology Station)产品描述SE2000全光谱椭偏测试平台基于椭圆偏振测试技术,采用先进的旋转补偿器,结合光纤专li技术......
LE-103PV 激光型椭偏仪(Laser Ellipsometer)产品描述LE-103PV激光型椭偏仪基于椭圆偏振测试技术,通过测试线偏振光经过样品反射后偏振态振幅和相位的改变,建立样品相应光学模型,计算出薄膜的厚度、折射率和消光系数。......
FTPadv Expert 综合薄膜测量软件 光谱反射测量软件FTPadv Expert是专门为测量和分析R(λ)和T(λ)而设计的。用于确定各种材料的薄膜厚度、消光系数或折射率的光谱数据分析,这些参数都被加载到SENTECH光谱......
台式薄膜探针反射仪 FTPadvFTPadv是一种具有成本效益的台式反射膜厚仪解决方案,它具有非常快速的厚度测量。在100毫秒以内进行测量,其精度低于0.3nm,膜厚范围在50 nm -25 μm。为了便于分光反射测量操作,该仪器包括了范围......
反射膜厚仪RM 1000和RM 2000反射膜厚仪RM 1000/2000具有200nm-930nm的紫外-近红外光谱范围。光学布局为光吞吐量优化,以便即使在粗糙或曲面上也能可靠地测量n和k。精确的高度和倾斜特别适用于精确的单光束反射率测量......
激光椭偏仪SE 500adv,结合椭偏反射CER的SE 500adv 椭偏仪SE 500adv将激光椭偏仪和反射仪结合在一个系统中。这种组合允许零度反射法用于快速薄膜分析,并且允许透明膜以激光椭偏仪的亚埃精度将可测量的厚度范围扩展......
激光椭偏仪 SE 400adv激光椭偏仪SE 400adv测量透明薄膜的厚度和折射率指数,具有测量速度、亚埃级别的厚度精度和折射率测定的精度。多角度测量允许使用激光椭偏仪SE 400adv表征吸收膜特征。 亚埃精度稳定的氦氖激光器......
SpectraRay/4:光谱椭偏测量/分析软件SENDURO®全自动光谱椭偏仪包括基于测量处方的仅在几秒钟内即可完成的快速数据分析。椭圆仪的设计是为了便于操作:放置样品,自动样品对准,自动测量和分析结果。在全自动模式下使用光谱椭偏仪非常适......
SENDURO 全自动光谱椭偏仪,SENDURO 全自动光谱椭偏仪包括基于测量处方的仅在几秒钟内即可完成的快速数据分析。椭圆仪的设计是为了便于操作:放置样品,自动样品对准,自动测量和分析结果。在全自动模式下使用光谱椭偏仪非常适合于质量控制和......