TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统电子显微分析是材料和生命科学微观分析中zei重要的一环,而元素分析是其中zei重要的表征手段之一,但标准的分析手段如能谱仪和波谱仪存在很多不足,......
可满足任何痕量分析要求飞行时间质谱系统拥超强的稳定性,高灵敏度和高质量质谱图,适合高通量实验室的日常工作;其专利的动态背景补偿( DBC)功能和SelectEV功能,又可以得到前所未有的定性能力,适合研发实验室要求。产品特点 &n......
TOF-SIMS是一种非常灵敏的表面分析技术,适用于许多工业和研究应用。该技术通过对一次离子束轰击样品表面产生的二次离子进行质量分析,并行探测所有元素和化合物,具有极高的传输率(可达到100%),只需要一次轰击就可以得到研究点的完整质量谱图......
Hybrid SIMSSIMS能够从无机和有机样品上的亚微米区域获取化学成分信息。从事生命科学应用研究的人员对于这种功能尤其感兴趣。近年来,在亚细胞水平上成像和准确识别分子的愿景一直在推动仪器及其应用的发展。虽然新的离子源扩展了SIMS仪器......
飞行时间二次离子质谱(TOF- SIMS)是一种表面敏感的技术,提供表面分子,元素及其同位素前几个原子层的组成图像。所有元素和同位素,包括氢气都可以用飞行时间二次离子质谱分析。在理论上,该仪器可以在一个无限大的质量范围内提供很高的质量分辨率......
SurfaceSeer :具有高通量分析功能的飞行时间二次离子质谱仪,用于研究样品特定性能的理想工具 SurfaceSeer 是Kore公司集多年研发经验生产出独特的仪器,第一次将材料表面分析技术引入到可负担得......
PHI nanoTOF II飞行时间质谱仪™TRIFT-V nanoTOF II(三次聚集飞行时间)二次离子质谱仪是超灵敏的表面分析技术,可检测表面分子成分和分布,元素及其同位素。所有元素和同位素,包括氢都可以用飞行时间二次离子质谱分析。由......
二次离子质谱(secondary ion mass spectroscopy),是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器,它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面,使样品表面的分子吸收能量而从表面发生溅射产生二次离子,通过质量分析器收集、分析这些......
轻元素是指原子序数10(氖)至20(钙)的元素,分别为Ne(氖)、Na(钠)、Mg(镁)、Al(铝)、Si(硅)、P(磷)、S(硫)、Cl(氯)、Ar(氩)、K(钾)、Ca(钙)。超轻元素为B、C、N、O、F。TESCAN 电镜质......
微量元素约有70种,指的是在人体中含量低于人体质量0.005%~0.01%的元素。包括铁、铜、锰、锌、 钴、钼、铬、镍、钒、氟、硒、碘、硅、锡。TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统......