Hiden PSM是一台结合质量和能量分析的仪器,用于分析等离子体过程中正、负离子、中性粒子以及自由基的种类和能量分布。PSM是一台差式泵质谱仪(In-Line Plasma Analysers for Neutrals, Radicals......
半导体中的四极杆SIMS掺杂物深度剖析和薄层分析CAMECA SIMS 4550为光学器件中的硅、高k、硅锗以及III-V族化合物等复合材料的薄层提供超浅深度剖析、痕量元素和组分测量等一系列扩展功能。高深度分辨率和高通量随着器件尺寸不断缩小......
描述:Hiden SIMS二次离子质谱工作站提供高性能静态和动态 SIMS 分析,用于的表面成份分析和深度剖析。SIMS 工作站(SIMS Workstation-a complete SIMS Analysis Facility) ,综合......
描述:EQS 是差式泵式二次离子质谱(SIMS-Secondary Ion Mass Spectrometer ‘Bolt-On’ probe),可分析来自固体样品的二次阴、阳离子和中性粒子。采用最新技术的SIMS 探针,便于连结到现有的U......