TOF-SIMS是一种非常灵敏的表面分析技术,适用于许多工业和研究应用。该技术通过对一次离子束轰击样品表面产生的二次离子进行质量分析,并行探测所有元素和化合物,具有极高的传输率(可达到100%),只需要一次轰击就可以得到研究点的完整质量谱图......
Hybrid SIMSSIMS能够从无机和有机样品上的亚微米区域获取化学成分信息。从事生命科学应用研究的人员对于这种功能尤其感兴趣。近年来,在亚细胞水平上成像和准确识别分子的愿景一直在推动仪器及其应用的发展。虽然新的离子源扩展了SIMS仪器......
全新 M6— — 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)先进科技 M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基础上开发的新一代高......
全新 M6 具有以下突出优势:1 新型 Nanoprobe 50 具有高横向分辨率 (< 50 nm) 2  ......
Nanoprobe 50 是新一代 M6 的铋离子团簇离子源(LMIG)。 该源可提供高达 40 nA 的 DC 电流和高达 4......
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS),也叫静态二次离子质谱,是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。TOF-SIMS具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性能,是目前高技术领域广泛使用的分析技术。Hybrid SIMSSIMS......
TOF-SIMS是非常灵敏的表面分析手段。其凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能,广泛应用于医学、细胞学、地质矿物学、微电子、材料化学、纳米科学、生命科学等领域。Hybrid SIMSSIMS能够从无机和有机样品上的亚微米区域获取......