应用于高空间分辨率下同位素和痕量元素分析的SIMSNanoSIMS 50L是一款独特的离子探针,在高横向分辨率下优化了SIMS分析性能。该仪器的开发借鉴了一次离子束和二次离子提取的同轴光学设计以及具有多接收功能的原始扇形磁质量分析仪。产品概......
用于半导体晶圆厂中成分测量的全自动 SIMSAKONIS SIMS 工具通过直接在半导体生产线中提供对注入分布、成分分析和界面数据的高产量、高精度检测,填补了半导体制造工艺中的重要空白。AKONIS 有非常高的自动化水平,确保了各种工具在晶......
为世界领先的地质年代学研究提供的专用离子探针为了满足地质年代学家日益增加的需求,CAMECA推出了KLEORA,这款大尺寸几何结构SIMS仪器专门针对先进的U-Th-Pb矿物定年进行了全面优化。产品概述KLEORA在新一代超高灵敏度大尺寸几......
用于分析放射性样品的高性能屏蔽式 SIMS 仪器众所周知,动态二次离子质谱仪(SIMS)适用于广泛的核科学应用,但对于高放射性材料(如辐照核燃料)的研究,则需要使用特定的仪器。ACTINIS 源于经过实证的 CAMECA IMS 7f 系统......
适用于半导体应用的高性能低能量SIMSIMS Wf和SC Ultra经专门设计,可充分满足高级半导体对动态SIMS测量日益增长的需求该仪器可提供大范围的冲击能量(150 eV到13 keV),不影响质量分辨率和一次离子束密度,可确保在高通量......