多功能SIMS工具:高分析效率和全自动化的基准检测灵敏度IMS 7f-Auto是我们获得成功的IMS xf二次离子质谱仪(SIMS)产品系列的新型号。该仪器旨在提高高精度元素和同位素分析的易用性和生产率,已针对玻璃、金属、陶瓷、硅基,III......
半导体中的四极杆SIMS掺杂物深度剖析和薄层分析CAMECA SIMS 4550为光学器件中的硅、高k、硅锗以及III-V族化合物等复合材料的薄层提供超浅深度剖析、痕量元素和组分测量等一系列扩展功能。高深度分辨率和高通量随着器件尺寸不断缩小......
应用于地球科学实验室的紧凑、高通量SIMSIMS 7f-GEO是单接收SIMS型号,专用于地质样品的高精度/高通量测量,即稳定同位素、稀土元素(REE)、痕量元素……该仪器也可应用于材料科学分析和环境研究。实现高同位素比值再现性的独特检测系......