这款薄膜厚度测量系统平台是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器,可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪,比如标准吸收/透过率,反射率的测量,薄膜的测量,薄膜温度和厚度的测量。这个薄膜厚度测量系统......
SEMILAB-全光谱椭偏仪GES5E (Spectroscopic Ellipsometer)SEMILAB成立于1989年,总部位于匈牙利布达佩斯,为生产、研发中心,客户遍布全球。在欧洲、和亚洲主要国家都设有分支机构, 在美国设有工厂和......
SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台(Spectroscopic Ellipsometer Metrology Station)产品描述SE2000全光谱椭偏测试平台基于椭圆偏振测试技术,采用先进的旋转补偿器,结合光纤专li技术......
LE-103PV 激光型椭偏仪(Laser Ellipsometer)产品描述LE-103PV激光型椭偏仪基于椭圆偏振测试技术,通过测试线偏振光经过样品反射后偏振态振幅和相位的改变,建立样品相应光学模型,计算出薄膜的厚度、折射率和消光系数。......
LE-103PV 激光型椭偏仪(Laser Ellipsometer),布鲁克
LE-103PV是Semilab针对光伏市场推出的一款低成本、高集成度的革新型产品,主要应用于测试具有绒面结构的晶体硅减反射膜的厚度和光学特性。测试软件操作简单、界面友好、所使用的光学模型与Semilab全光谱椭偏仪丰富的数据库相兼容,方便......
LE-103PV 激光型椭偏仪(Laser Ellipsometer),布鲁克
LE-103PV 激光型椭偏仪(Laser Ellipsometer)产品特点可测量减反射膜厚度、折射率和消光系数等光学特性稳定、可自动校准的集成光路优化设计的156mm多晶和单晶测试平台,方便用户转换单晶和多晶测量自动变换入射角的设计提高......
LE-103PV 激光型椭偏仪(Laser Ellipsometer),布鲁克
LE-103PV 激光型椭偏仪(Laser Ellipsometer)主要应用太阳能电池片减反射膜的厚度、折射率和消光系数测试二氧化硅等介质膜的厚度、折射率和消光系数测试透明材料的光度学测试主要技术指标激光波长: &n......
SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台,布鲁克
SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台(Spectroscopic Ellipsometer Metrology Station)、SE2000全光谱椭偏测试平台是Semilab针对产线和实验线推出的多功能高速测试平台。模块化的设......
SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台,布鲁克
SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台SE-1000型椭偏仪采用手动变角装置来设定测试的入射角,样品台也采用手动方式,在测试的准确性和灵活性与SE-2000保持一致的情况下,为客户提供了一款极具竞争力的椭偏测试设备。另一方面,SE......
SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台与SE-2000平台一样,SE-1000全光谱椭偏仪同时也是一个多功能测试平台,采用模块化的设计,可集成FTIR红外光谱测试模组、涡电流法非接触式或4PP接触式方块电阻测试模组、Mueller......