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SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台可用于平板显示行业:TFT、OLED、LTPS、IGZO、彩色滤光片
SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台可用于平板显示行业:TFT、OLED、LTPS、IGZO、彩色滤光片
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SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台可用于平板显示行业:TFT、OLED、LTPS、IGZO、彩色滤光片
SE2000全光谱椭偏测试平台基于椭圆偏振测试技术,采用先进的旋转补偿器,结合光纤专li技术将偏振光信号传输至分段光谱优化的高分辨率单色仪或阵列式多通道摄谱仪,测得线偏振光经过样品反射后的偏振态变化情况,并通过样品光学模型的建立,计算出单层或多层薄膜结构的厚度、折射率和消光系数,实现精确、快速、稳定的宽光谱椭偏测试。
PIPES指数:7用户:应用:

型号型号:SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台

品牌品牌:布鲁克

产地产地:匈牙利

北京亚科晨旭科技有限公司

青铜会员 青铜会员
核心参数
产地: 欧洲
供应商性质: 总代理
产地类别: 进口
价格范围: 10万-30万
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产品描述

SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台

与SE-2000平台一样,SE-1000全光谱椭偏仪同时也是一个多功能测试平台,采用模块化的设计,可集成FTIR红外光谱测试模组、涡电流法非接触式或4PP接触式方块电阻测试模组、Mueller Matrix各项异性材料测试模组、Raman结晶率测试模组、电子迁移率表征模组、LBIC光诱导电流测试模组、反射干涉测试模组等多种功能,用户可根据测试需求合理选择搭配功能

产品特点

业界第yi家光谱型椭偏仪测试设备厂商

业界标准测试机构定标设备,参与发布中华人民共和国椭圆偏振测试技术标准

针对研发及实验室测试设计,能降低测试成本

模块化设计,可综合监控样品光学和电学特性

定期免费升级SOPRA材料数据库

开放光学模型拟合分析过程,方便用户优化测试菜单

主要应用

业界第yi家光谱型椭偏仪测试设备厂商

业界标准测试机构定标设备,参与发布中华人民共和国椭圆偏振测试技术标准

针对研发及实验室测试设计,能降低测试成本

模块化设计,可综合监控样品光学和电学特性

定期免费升级SOPRA材料数据库

开放光学模型拟合分析过程,方便用户优化测试菜单

主要技术指标

手动变角范围:45°-75°(最小步进5°)

光谱范围:245-990nm

最大样品尺寸: 200mm

厚度测量范围:0.01nm-50um(取决于样品类型

主要应用

光伏行业:薄膜电池透明导电膜、非晶硅微晶硅薄膜电池、CIGS薄膜电池、CdTe薄膜电池、有机电池、染剂敏感太阳能电池

半导体行业:High-K、Low-K、金属、光刻工艺、半导体镀膜工艺、外延工艺

平板显示行业:TFT、OLED、LTPS、IGZO、彩色滤光片

光电行业:光波导、减反膜、III-V族器件、MEMS、溶胶凝胶

主要技术指标

测试速度:<1 sec (快速测试模式)
               <120 sec (高分辨率测试模式)

测量光谱分辨率:<0.5nm@633nm (高分辨率测试模式)
                        <0.8nm@633nm (快速测试模式)

最大样品尺寸: 300mm

厚度测量范围:0.01nm-50um

厚度测试精度:0.02nm @120nm SiO2 on Si

折射率测试精度:0.002 @120nm SiO2 on Si


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