SE-101、102、110,PHOTONIC LATTICE
膜厚测试仪椭偏仪应力双折射仪,能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。 日本Photonic-lattice公司成立于1996年,以日本东北大学的光子晶......