SuperViewW中图白光干涉三维轮廓仪以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像。它能以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸,典型结果包括:表面形貌(粗糙度,......
仪器介绍 TF200薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线。TF200根据反射回来的干......
【仪器介绍】SGC-10型薄膜测厚仪,适用于介质,半导体,薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量,是天津港东与美国new-span公司合作研制的,采用new-span公司先进的薄膜测厚技术,基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数(折射......
FE-300膜厚仪产品特点●测试范围涵盖薄膜到厚膜●基于绝对反射率光谱分析膜厚●结构紧凑,精度高,台式经济型●操作简单●非线性最小二乘法实现折射率和消光系数解析适用范围●多层膜●非干涉膜●超晶格结构●光学薄膜(ARfilm、ITO)●FPD......
非接触式光学膜厚仪AT-5000本设备操作简单,放置样品即可测量的。一步到位。缩短检查工程,无标准曲线,精度高,分辨率高,轻松测量样品的绝对厚度。光学方式为大冢电子独创,不仅外形小巧,无论透明?粗糙还是易变形的样品,都可以实现非接触式的高精......
Delta薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线。Delta根据反射回来的干涉光,用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3m......