等离子体发射测量在紫外线…近红外线范围可同时观察到等离子发射低压等离子沉积技术是一个客观的连续不断的过程,如PVD(物理气象沉积)是今天真正的问题之一。除了等离子体发射光的表观检查,有时也使用质谱技术。但是质谱技术既不方便操作,其结果也不容......
TranSpec光谱仪结合创新的光电技术与强大的模拟/数字电子技术和最新的计算机技术。借助于灵活的光纤,TranSpec的应用范围从标准的常规实验室分析到在线过程测量技术的特殊任务。使用FSMA标准光纤连接的高稳定性光电二级管阵列分光计使用......
产品描述TranSpec Micro新的光纤耦合TranSpec Micro薄膜厚度显微镜可以将薄膜厚度测量点的大小降到50-100um。测量点的图像可通过装在显微镜上的特殊彩色相机实时查看。TranSpec ......
技术特点光学方法,非接触、无损测量,安全无辐射。快速膜厚分析,只需几毫秒即可获得测量结果膜厚测量范围 0.1 - 150 微米 ( 0.004 to 6 mil )极高的分析准确度,在整个厚度测量范围......
应用领域:Wafer晶片,微流控系统,金刚石工具,汽车气缸,光学镜片,金属表面,机身外观(汽车),粗糙度标准片。详情见产品手册。technology measurement principle:white-light interf......
最近,德国LEICA推出了新一代薄膜测厚仪DRM1000以应对微电子,半导体产业的新高潮。该膜厚仪的先进性在于:--最小光斑可达1微米--既使用显微光谱反射法又能使用白光干涉法进行测量半导体薄膜厚度--德国LEICA顶尖的光学显微镜系统--......
产品描述TranSpec Micro新的光纤耦合TranSpec Micro薄膜厚度显微镜可以将薄膜厚度测量点的大小降到50-100um。测量点的图像可通过装在显微镜上的特殊彩色相机实时查看。TranSpec ......
产品描述TranSpec光谱仪结合光电技术与模拟/数字电子技术和计算机技术。借助于灵活的光纤,TranSpec的应用范围从标准的常规实验室分析到在线过程测量技术的特殊任务。使用FSMA标准光纤连接的高稳定性光电二级管阵列分光计使用spuri......
等离子体发射测量在紫外线…近红外线范围可同时观察到等离子发射低压等离子沉积技术是一个客观的连续不断的过程,如PVD(物理气象沉积)是今天真正的问题之一。除了等离子体发射光的表观检查,有时也使用质谱技术。但是质谱技术既不方便操作,其结果也不容......
技术特点光学方法,非接触、无损测量,安全无辐射。快速膜厚分析,只需几毫秒即可获得测量结果膜厚测量范围 0.1 - 150 微米 ( 0.004 to 6 mil )极高的分析准确度,在整个厚度测量范围......