JEM-F200自动进样透射电镜透射电镜操作难点1,插拔样品杆;2,电镜操作JEM-F200自动插拔样品杆JEM-F200图像操作界面[分辨率]STEM0.16 nm (200 kV)TEM (晶格, 点)0.19 nm (200 kV)0......
JEM-F200 场发射透射电子显微镜以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验......
外观设计精炼精炼的外型,全新的视觉感受。为分析型电镜全新设计的GUI,使操作更加直观方便。JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现,与旧机型相比,电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。四级聚光镜系统现在的电子显微镜需要支持范......
四级聚光镜系统现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”,通过分别控制电子束强度......
高端扫描系统JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析,该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上,增加了新的扫描系统-“Advanced Scan System” 即成像系统的电子束扫描功能(选配)。皮米样品台驱动JEM-F2......
[分辨率]STEM0.16 nm (200 kV)TEM (晶格, 点)0.19 nm (200 kV)0.10 nm (晶格, 200 kV)[放大倍率]STEMx 20,000 ~ x 200,000,000TEMx 200 ~ x 1......