Thermo Scientific™ Spectra™提供先进的原子级成像和分析 2019年赛默飞世尔科技推出Thermo Scientific Spectra 透射电子显微镜(S/TEM),旨在通过提供先进的原子技术加速突破性发现在一个......
全自动、高生产率的半导体计量工作流程Thermo Scientific Metrios 6 (S)TEM 是新一代全自动计量解决方案,可提高生产率和数据质量,适用于大批量 TEM 计量。Metrios 6 (S)TEM 具有全新设计的硬件和......
使用电子束探测进行半导体失效分析Thermo Scientific Meridian EX 系统是一种基于电子束的创新解决方案,用于在高级逻辑设备中精确定位缺陷。它采用突破性的电子束技术,可以从设备的正面或背面探测复杂的布线网络。与光学方法......
用于对电子束敏感材料进行成像和光谱分析的扫描透射电子显微镜。适用于大多数电子束敏感材料的新成像和光谱分析功能利用 Ultra-X 进行 EDX 检测的飞跃色谱柱旨在保持样品完整性要真正优化 S/TEM 成像,EDX 和 EELS ......
Thermo Scientific™ Metrios™ AX S/TEM 是一款 60–200 kV 扫描/透射电子显微镜 (S/TEM),它采用全新设计,能够在前所未有的通量水平上提供可重复的基于 TEM 和 STEM 的成像、分析和测量......
产品概述:Vion PFIB 是一款具有高精度、高速度切割和铣蚀能力的仪器。 其具有选择性铣蚀所关注区域的能力。 此外,PFIB 可以选择性沉积带图案的导体和绝缘体。 高速铣蚀和精密控制的结合可确保该系统以多种方法应用于集成电路的制造,如:......
FEI Talos F200X 融合了出色的高分辨率扫描/透射电子显微镜 (STEM) 和 TEM 成像功能与行业ling先的能量色散 X 射线光谱仪 (EDS) 信号检测功能及基于成分测绘的三维化学表征功能。Talos F200X 可在所......
Apreo 复合透镜设计结合了静电和磁浸没技术,可产生前所未有的高分辨率和信号选择。这使得 Apreo 成为研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台,并且不会降低磁性样品性能。Apreo 受益于独特的透镜内背散射探测,这种探测提供卓越......
Titan ETEM G2 是我们专用的环境 TEM 平台,设计用来观测功能性纳米材料及其随着时间的推移对气体和温度刺激的响应。凭借du一无二的差动泵目镜,标本区可变身为实验室,展开对催化剂微粒、纳米器件和其他材料的研究,进而在原子级别洞察......
日立发布的200kV球差校正透射电镜HF5000,具有高稳定冷场发射电子枪,自动球差校正器,可一键操作实现自动球差校正,HAADF-STEM分辨率可以达到0.78埃;可配置EDS双探头,固体角最大可达2.0sr;具备TEM、ST......