徕卡
Sarfus HR Stations,nanolane
Sarfus HR stations 表面对比增强椭圆偏振显微镜是免标记、纳米级实时样品表征的分析仪器,基于独特的(SEEC)表面对比增强椭圆偏振显微技术。 Sarfus HR stations可追踪表面的变化,提供高横向分辨率的实时图像和......