Sarfus HR stations 表面对比增强椭圆偏振显微镜是免标记、纳米级实时样品表征的分析仪器，基于独特的（SEEC）表面对比增强椭圆偏振显微技术。
Sarfus HR stations可追踪表面的变化，提供高横向分辨率的实时图像和厚度测量。这将为研究分子相互作用，层次与形态变化，生物膜组装等表面现象提供更多的信息。仪器简单易用，只需几秒就可完成样品表征，并为特定环境下样品的分析提供多种组件。

Sarfus HR  stations是一个完整的一站式仪器，包括仪器，软件与电脑。每一个仪器组件都经过严格挑选，确保提完美的图像质量和zei高的纳米级测量精度。

仪器功能： 

•  实时观测薄膜/分辨率达纳米级

•  纳米薄膜和纳米图案形貌分析

•  实时研究分子的吸附和解吸

•  适时研究（生物）薄膜的组装和降解

•  实时观测纳米物体的分散

•  实时观测纳米物体/生物层的相互作用

•  Graphene & monosheet石墨烯&纳米片表征

•  表征溶胀/热响应的效应

•   …

软件：Sarfus HR stations提供易于操作和功能强大的软件Sarfusoft 和 Mountains Map. 

性能参数：

研究对象：

纳米薄膜 纳米图案 LB膜  聚电解质层 石墨烯 纳米颗粒

液晶 脂质层 生物膜 涂层 纳米管 SAMs 细胞膜/薄膜 分子层 生物切片