1.设备名称:霍尔效应测试仪2.功能描述:测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3.技术参数:3-1测试范围:Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type &am......
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MMR Hall Effect Measurement Systemcontrolled continuously variable temperature MMR可控连续变温霍尔效应测试系统1. 功能描述: ......
产品简介Instec的ALCT-PP1液晶参数测试仪能提供液晶物理参数的测试功能,如正/负性向列液晶的弹性系数K11和K33、阈值电压、CV曲线。此款设备快捷方便,体积小巧,可用USB线连接Windows系统,使用WInLC软件进行分析。A......