介电常数测量仪系列技术方案书 树立 LCR 表行业标杆精密 LCR 表实现精度、速度与通用性的*结合,适用于各种类型的元件测量。无论是在低阻抗量程还是高阻抗量程,均具有极快的测量速度和出色的测量性能......
•从纯水到非极性有机溶剂的介电常数测定•可以测量混合溶剂相, 用于提高Zeta电位的计算精度•操作简单,校正方便,开放式探头结构,容易清洗•用纯水或已知介电常数的液体进行校正 量程 1-20;1-200; 准确度:±......
● 从纯水到非极性有机溶剂的介电常数测定● 量程:1~20; 1~200;准确度: ±2%● 可以测定混合溶剂相,用于提高Zeta电位的计算精度● &nbs......
Js-C2110特征该实验装置用於评估固体电绝缘材料的绝缘强度。试验机可以在空气浴装置与油浴装置中进行绝缘破坏及耐电压测试。操作员可根据试样情况更换电极。......
仪器简介:日本AET微波(高频)介电常数测试仪, 利用微波技术结合高Q腔以及3D电磁场模拟技术,采用德国CST公司的3D电磁类比软件MW-StudioTM,测量材料的高频介电常数,此方法保证了介电常数测量结果的精确性。 AET公司......
仪器简介:日本AET微波(高频)介电常数测试仪, 利用微波技术结合高Q腔以及3D电磁场模拟技术,采用德国CST公司的3D电磁类比软件MW-StudioTM,测量材料的高频介电常数,此方法保证了介电常数测量结果的精确性。AET公司开发了二种共......
......
德国Phystech 深能级瞬态谱仪FT1230德国Phystech深能级瞬态谱仪FT1230(DLTS) 我们在1990年推出了首台数字DLTS,随着电脑技术的发展,使得在短时间内进行复杂计算成为可能。在纯指数发射过程模型的基础......
1.设备名称:霍尔效应测试仪2.功能描述:测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3.技术参数:3-1测试范围:Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type &am......
1.设备名称:霍尔效应测试仪2.功能描述:测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3.技术参数:3-1测试范围:Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type &am......