UVVS-5,优太可
用于非接触式测量的薄膜表征系统我们提供完整的薄膜厚度测量系统系列,可测量 5 nm 至 200 µm 的厚度,用于分析单层和/或多层薄膜在不到一秒的时间内完成。 StellarNet 薄膜反射测量系统由与反射探头和光源耦合的紧凑型......