ELITE,赛默飞
ELITE 系统锁相红外热成像系统,其增强锁相热发射功能用于定位半导体器件中的缺陷。先进的封装应用、复杂的互连方案和更高性能的功率器件的快速增长给故障定位和分析带来了前所未有的挑战。有缺陷或性能不佳的半导体器件通常表现出局部功率损耗的异常分......