X-MaxN 80T用于TEM 的X-Max N系列SDD采用新型晶体、电子电路和封装技术,是一款真正的“新一代”SDDX-Max N TEM探测器采用新的低噪声探测器设计,具有出色的分辨率和灵敏度 - 即使在......
Ultim Max TEM,搭载于透射电子显微镜(TEM)主要用于纳米尺度成分分析和元素面分布分析。全新设计80mm2的传感器,进一步接近样品并提供更多的x射线计数。UltimMax TEM结合了无窗设计和低噪音电子元器件 , 为 200k......
为了探测穿透能力较强的γ射线,要求探测器有更大的灵敏区。这种效果通常是使锂漂移进入p型半导体材料,进行补偿而获得。Ultim Max TEM,搭载于透射电子显微镜(TEM)主要用于纳米尺度成分分析和元素面分布分析。全新设计80mm2的传感器......
由于锗比硅对γ射线有更高的探测效率,故一般采用锗(锂)漂移探测器。全新设计80mm2的传感器,进一步接近样品并提供更多的x射线计数。UltimMax TEM结合了无窗设计和低噪音电子元器件 , 为 200kV下EDS分析提供高质量数据。·&......
牛津仪器X-MaxTEM无窗大面积硅漂移探测器为了探测穿透能力较强的γ射线,要求探测器有更大的灵敏区。这种效果通常是使锂漂移进入p型半导体材料,进行补偿而获得。由于锗比硅对γ射线有更高的探测效率,故一般采用锗(锂)漂移探测器。这种探测器的灵......
锂漂移型探测器的另一个特点,是当它被用来探测x及γ射线时必须保持在低温(77k)和真空中工作。全新设计80mm2的传感器,进一步接近样品并提供更多的x射线计数。UltimMax TEM结合了无窗设计和低噪音电子元器件 , 为 200kV下E......