为了探测穿透能力较强的γ射线，要求探测器有更大的灵敏区。这种效果通常是使锂漂移进入p型半导体材料,进行补偿而获得。

Ultim Max TEM，搭载于透射电子显微镜(TEM)主要用于纳米尺度成分分析和元素面分布分析。

全新设计80mm2的传感器，进一步接近样品并提供更多的x射线计数。UltimMax TEM结合了无窗设计和低噪音电子元器件 , 为 200kV下EDS分析提供高质量数据。

·       0.2 - 0.6 srad的立体角

·       对低能量x射线的灵敏度可提高8倍

·       可在400,000cps的计数率下进行定量分析

在原位实验中，可在1000°C的温度下采集谱图




旗舰款SDD传感器Ultim Max TLE，搭载于透射电子显微镜(TEM)，经过设计优化，提高了小束斑下的计数率，可表征原子尺度的元素信息。

这一性能是通过优化的晶体形状，100mm2大面积晶体，无窗结构，优化的机械设计和Extreme级电子元器件来实现的。

    0.5 - 1.1srad的立体角

    对低能量x射线的灵敏度可提高8倍

    可在400,000cps的计数率下进行定量分析

在原位实验中，在高至1000°C的温度下采集谱图




Xplore TEM是专门为120kV和200kV 透射电镜（TEM）的常规应用而设计的元素分析系统。使用新的 80mm2 传感器和聚合物薄窗口及低噪音电子元器件 , 为用户提供快速和准确的元素表征。

    0.1 - 0.4 srad的立体角

    从Be到Cf的元素检测

    可在200,000cps的计数率下进行定量分析

SATW窗口为广泛的应用提供了极大的便利性