专为TKD分析的样品座,TKD即透射菊池花样演示分析(Transmission Kikuchi Diffraction)技术,是最新用于检测仅十几纳米尺度的EBSD分析方法,空间分辨率比传统技术提高一个数量级。该样品座方便用户将超轻薄样......
新产品气体注入系统OmniGIS II,具有一套单端口、气体源注入系统(GIS)。该系统可以允许用户在SEM和FIB里构建纳米结构,以达到以前所未有的精度、速度和可用性。在扫描电镜或聚焦离子束样品室中,气体注入系统(GIS)直接在样品上引入......
日立高新离子研磨装置IM4000(HITACHI Ion Milling System IM4000 )具有断面加工和平面研磨功能的混合仪器! 日立高新离子研磨装置IM4000(HITACHI Ion Milling ......
圆片冲样是金属透射样品制备的重要起始环节,无形变的取样对于后续样品制备尤其关键。 德尓微自主研发制造的圆片冲样器, 一经......
手动精密研磨器 MDG1在TEM透射样品进入离子减薄处理之前,需要将样品处理成平整、均匀和较薄的样品,称之为预减薄。预减薄或抛光工序有助于提高后续离子减薄的效率和质量。 手动精密研磨器MDG1可以快速进行平面......
德尓微仪器创新开发的高精密TEM圆片冲样器1700-3A,用于实现无失真透射电子显微镜(TEM)样品制备。TEM圆片冲样器非常适合处理韧性具有延展性材料如金属,冲切厚度范围从50微米到120微米。待冲压材料的样品区域清晰可见,很......
ZB-J0730型圆片打孔机使用说明 一、圆片打孔机 圆片打孔机 打孔机用于TEM的延展性和柔韧性材料切割,是一款切割金属、合金材料及所有韧性材料制备TEM样品的首选工具。......
牛津仪器OmniGIS II气体注入系统新产品气体注入系统OmniGIS II,具有一套单端口、气体源注入系统(GIS)。该系统可以允许用户在SEM和FIB里构建纳米结构,以达到以前所未有的精度、速度和可用性。在扫描电镜或聚焦离......
在扫描电镜或聚焦离子束样品室中,气体注入系统(GIS)直接在样品上引入了可控制的流动气体方案。气体与显微镜的电子束或离子束相互作用,可以在材料表面进行刻蚀或沉积。应用范围包括样品制备和纳米焊接,以及采用直写式光刻技术建立纳米结构......
OmniGIS II,牛津仪器的第二代气体注入系统,具有独特的特性,相比同行业的同类产品,它能使控制水平和准确性达到前所未见的高度。通气口可以自动识别气体源并快 速进行气体源更换,同时可以安装三种气体源和另外两种气体。设备采用“流通式......