S4 TStar — TXRF的明星 数十年来,X 射线荧光(XRF)光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析,检测限值低于PPb 量级。TXRF ......
痕量分析 TXRF 光谱仪 快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析,元素范围13Al-92U,检出限到2pg。 ......
痕量分析 TXRF 光谱仪 TXRF全反射X射线荧光光谱仪快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析,元素范围13Al-92U。&nbs......
仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法,但与X射线能谱形成对比的是,传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品,而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角,原级X光束几乎可以全部被反......
仪器简介:「EA1200VX」沿用了最新精工电子纳米科技有限公司自行开发的高计数率(能检测大量X射线的能力)检测器「Vortex」,具有更高的灵敏度和分辨率。适用于RoHS、ELV、无卤、EN71等环境限制物质测量,也可用于溶液、粉末、固体......
仪器简介:通过位置精度较高的自动样品台和高灵敏度性能,可以对微小异物进行快速扫描和检查,也可对电子基板等复合材料制品的微小特定部位实施定点精确测量。型号名称:EA6000VXX射线源:50kV、1mA、空冷式检测器:半导体检测器(无需液氮)......
概要:通过将可选项的精度管理型软件进一步升级,并使之成为标准配备,实现了低价格化。与以往仪器相比,环境管制物质的测量时间大幅缩短,材料辨识功能、分析线切换功能、清晰易懂的操作面板……易用性大大提高,分析速度更快,操作更简单。 型号......
概要:使用新开发的X射线聚光用多毛细管的产品阵容诞生了。另外,FT150系列以X射线检测结构为中心,对各类元件进行最佳优化,从而大幅提高了检测灵敏度,在不损失检测精度的前提下实现了的高处理能力。并且,对设备进行了重新设计,使得样本室的使用,......
HORIZON 全反射X荧光光谱仪 应用于半导体材料领域(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X 射线(一次射线),激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线,并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能......
HORIZON 全反射X荧光光谱仪 应用于油品分析领域全反射X-光荧光分析仪(Total-reflection X-ray Fluorescence Spectrometer, TXRF&......