特点通用手持式X射线荧光分析仪,即使材料组合困难复杂的情况下,也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析;符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 标准重量1.9 kg一次电池充电可持续运行6个小时测量点:3毫米Ø高分辨率硅漂移检测器......
特点高端泛用的XRF分析仪,用于超薄镀层 (<0.05μm) 的自动测量和低于每密耳范围的精细材料分析,符合ISO 3497 和 ASTM B 568 标准带钨靶的微聚焦射线管4个可切换的准直器,用于优化测量条件6种可切换的滤波器,为......