NANOTRAC FLEX —— 真正的180° 动态光背散射测量技术NANOTRAC FLEX独特的探头设计可以实现只需要一滴液体滴在探头的顶部进行测量(图1), 这样测量只需最小的样品量2μl。探头同时也适合1.5mL Epp......
仪器简介:德国Fritsch公司是实验室样品预处理(研磨机、破碎机)和颗粒度分析(粒度仪)的专家。最新的动态颗粒图像分析仪Analysette 28借助于500万像素的工业级双向远心镜头以及强大的分析软件,可快速对待测颗粒进行粒形分析,广泛......
技术参数: &n......
500nanoP 静态图像法粒度粒形分析仪 (干法)P系列"药物分析专用的粒径及形貌分析,符合FDA CFR Part11要求,侧重于API和赋形剂、危险粉末、水泥粉末以及研磨咖啡粉。它包括一个计算机控制的样品分散装置,便于在通风......
Litesizer™ 500 是用于表征分散型样品和溶液中纳米颗粒以及微颗粒的仪器。它可通过测量动态光散射 (DLS)、电泳光散射(ELS) 和静态光散射 (SLS) 来测定颗粒尺寸、zeta电位和分子质量。Litesizer™ 500 的......
欧奇奥 Zephyr 图像法粒度分析仪粒度粒形分析仪将图像这一直观的观察测量方法与统计学相结合的Z新图像法颗粒粒度粒形表征不仅能够得到个别颗粒的直观信息,还能够得到大量样品的粒径和形貌的统计信息,从而帮助使用者全方位地表征样品。粒度粒形分析......
法国Cilas公司创建于1966年,属于偶走宇航防务集团(EADS)及法国AREVA集团的子公司,主要研究用于军用及核工业领域的激光技术。 &n......
产品简介: BI-DCP/ BI-XDC是基于经典的离心/沉降原理,通过高精度的数字式电机控制,是迄今为止具有统计意义的粒度仪中分辨率、准确率最高的测量仪器。广泛应用于胶乳、碳黑、陶瓷和金属粉末......
产品简介: 广角激光光散射仪采用TurboCorr数字相关器,通过动态光散射的方法可以测量小至1nm的纳米颗粒分布情况,通过静态光散射的方法可测量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲线......
产品简介: 90Plus PALS高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪是目前唯一能够精确测量低电泳迁移率体系Zeta电位的仪器,它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技术,比其它测量Zeta电位的技术......