QUANTAX Xflash,布鲁克
TEM、STEM 和 SEM (T-SEM) 中纳米尺度的 EDS 元素面分析清晰的多功能测量装置和细管径几何构型可确保在常规基础上快速可靠的采集 TEM EDS 数据。使用 HyperMap 或谱图获取高光谱成像,我们的软件保存每个像素的......
QUANTAX FlatQUAD,布鲁克
QUANTAX FlatQUAD 是基于 XFlash® FlatQUAD 的 EDS 分析系统。这种环形四通道硅漂移探测器实验时位于SEM极靴和样品之间,在EDS测试中实现Max固体角。QUANTAX FlatQUAD......