J200 Tandem LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统(LA-LIBS)一、技术背景J200飞秒激光进样系统来自美国应用光谱公司(ASI),ASI公司是一家专门研究激光剥蚀及光谱分析技术......
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J200激光诱导击穿光谱仪(LIBS) J200激光诱导击穿光谱仪(LIBS) J200 LIBS仪器是Applied Spectra旗舰系统。它专为处理苛刻的痕量元素分析而设计-那些需要高灵敏度和准确性的分析。J200......
ASI技术确保准确性和可重复性达到提高LIBS数据度的关键仪器要求之一是始终如一的激光聚焦到样品表面。借助正在申请Z L的ASI硬件技术,可确保我们的客户的LIBS测量准确且可重复。ASI化学计量软件包ASI专有的化学计量软件利用一组高度复......
借助几种可用的硬件升级选项,J200 LIBS可配置为提供不同的激光烧蚀环境,从而使我们的客户能够进行高度创新的LIBS研究。坚固的仪器设计确保了每个激光脉冲的可重复测量结果。J200 LIBS仪器使用Nd:YAG激光烧蚀样品。心选择激光波......
Dr. Rick Russo为实验室科学家,他及其团队在激光剥蚀领域具有很高的际声望。其本人从事激光与材料相互作用机理及相关应用研究达30余年,对于先进的激光、光谱仪器、成像系统、计算及电子器件具有丰富的经验,发表学术论文300余篇......
J200采用了一种自动调高传感器,该传感器的设计考虑到了样品表面的形态变化。这一特性使得J200能够保持的激光聚焦,不论高度差异如何,在所有采样点上提供相同的激光通量,并在所有采样点上实现一致的激光剥蚀。这一创新的传感器特性是由应用光谱公司......
复合系统软件允许分析人员执行PCA(主成分分析),并可观察从样品中收集到的一组LIBS光谱和质谱之间的差异。软件中的PCA工具是使用LIBS、质谱或两个光谱对各种样品(包括玻璃、油漆、油墨、塑料、地质矿物等)进行分类或鉴别的理想方法。同时,......
Axiom LA集成了来自应用光谱公司业界的RT100系列LIBS仪器中的强大LIBS数据分析工具。TruLIBS™,是应用光谱公司专有的研究导向数据库,它是从真实的LIBS等离子体中获得,能够快速而准确地识别复杂的LIBS发射峰。......
根据测量目标(主要成分分析、包裹体分析、高分辨率深度分析、元素成像等),有必要对样品室的各个性能指标进行优化,指标包括:冲洗时间、颗粒混合、样品室内的流动特性J200的Flex样品室的设计能够容纳直径为4英寸的样品,它使用一组可互换的顶部和......