全自动工业 WLI-AFM 系统Park NX Hybrid WLI是有史以来第一款具有内置WLI轮廓仪的AFM,用于半导体和相关制造质量保证。例如半导体前端、后端到高级封装的过程控制,以及研发计量。它适用于那些需要在大面积上进行高吞吐......
NX-Hybrid WLI 功能Park WLI系统Park WLI支持WLI和PSI模式(PSI模式由电动过滤器变换器 支持)可用物镜放大倍数:2.5X 、10X、20X、50X、100X两个物镜可由电动线性换镜器自动更换WLI光学干涉测......
半导体计量的两种最佳互补技术。WLI: 白光干涉测量是一种光学技术,它可以对非常宽的区域进行成像,速度非常快,满足高吞吐量测量。AFM: 原子力显微镜是一种扫描探针技术,即使对透明材料也能提供最精确的纳米级分辨率测量。点击查看大图 &nbs......
WLI应用需要比WLI 能力更高的分辨率和精度先进的化学机械抛光计量和监测先进封装全掩模的热点和缺陷检测晶圆级计量AFM应用需要更大的区域和更高的吞吐量In-line 晶圆计量长行程CMP轮廓表征亚埃级表面粗糙度控制晶圆检验与分析 ......
WLI应用需要比WLI 能力更高的分辨率和精度先进的化学机械抛光计量和监测先进封装全掩模的热点和缺陷检测晶圆级计量AFM应用需要更大的区域和更高的吞吐量In-line 晶圆计量长行程CMP轮廓表征亚埃级表面粗糙度控制晶圆检验与分析 ......
产品介绍Park NX-Hybrid WLIAFM 和 WLI 技术集成系统用于 200mm至 300mm 晶圆的全自动工业化 AFM-WLI 系统是业内最快捷、最准确、最通用的半导体计量工具。Park NX-Hybrid WLI 是迄今为......
半导体计量的两种最佳互补技术。WLI: 白光干涉测量是一种光学技术,它可以对非常宽的区域进行成像,速度非常快,满足高吞吐量测量。AFM: 原子力显微镜是一种扫描探针技术,即使对透明材料也能提供最精确的纳米级分辨率测量。 扫描区......
NX-Hybrid WLI 功能Park WLI系统Park WLI支持WLI和PSI模式(PSI模式由电动过滤器变换器 支持)可用物镜放大倍数:2.5X 、10X、20X、50X、100X两个物镜可由电动线性换镜器自动更换WLI光学干涉测......