......
CDE 四探针电阻率电导率测试仪 Resmap168Resmap168型四点探针测试仪是专门为光伏电池生产企业设计的一款产品。提供可靠,准确和重复性好的四点探针测试技术。168型带自动传送功能,从提高了产品的产量,从而降低导电材料......
这款晶圆自动四探针电阻率计是四点探针型的半导体晶圆和电阻薄膜的电阻率特性测量仪器,它采用微处理器电路直接计算出V/I数值,表面电阻率,薄片电阻率,晶片电阻率,金属化厚度,PN结类型测试。晶圆自动四探针电阻率计采用紧凑型设计,把电子电路和探针......
Jandel公司生产的具有6个连接通道的cartridge型四探针探头.其创意设计是与CDE系统相兼容. 所有jandel公司生产的探头具有非常高的机械精度。通过视频检测系统和光学干涉仪来验证规范探针半径曲率、间距以及平面性(平面......
FT-301系列自动导体粉末电阻率测试仪(多功能型)FT-301 Series intelligent powder resistivity test system (upgrade)一、概述Overview:采用一体化结构设计,将粉末比电......
四探针,四探针测试仪,表面电阻测试仪,电阻率测试仪,方阻计,方阻仪,FT-361超低阻双电四探针测试仪一、概述:本品为解决四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率,最小可以测试到1uΩ方阻值,是目前同行业中能测量到的最小值,采用高精度AD芯片控制......
FT-351高温四探针电阻率测试系统一、概述:采用由四探针双电测量方法测试方阻和电阻率系统与高温试验箱结合配置专用的高温测试探针治具,满足半导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求,通过先进的测控软件可以显示出温度与电阻,电阻率,电导率数据......
四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/方阻测试仪/方阻仪/四探针电阻率测定仪(自动测试台+带软件) 型号:KDK-KDY-1四探针电阻率/方阻测试仪(以下简称电阻率测试仪)是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶、硅片)电阻率,......
擁有 Arc Management System™ 技術的 Ascent® DC 電源堅固耐用的 Ascent® DC 電源專門管理電弧敏感製程,專為追求高品質、高重複率的薄膜製程提供穩定電源。嚴苛的驗證方案確保最高的可靠性。有效的 Arc......
PECVD / HDPCVD / RIE / ICP / DSE,Plasma-Therm
Plasma-Therm是致力于PECVD/HDPCVD/RIE/ICP/DSE的世界知名设备提供商, 产品涵盖2”~ 12”主流干法刻蚀/PECVD工艺,广泛应用于半导体、MEMS、三五族(GaAs / SiC / CPV)、LED、SO......