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FPP扫描四点探针测试仪 产品性能 设计:可与同一仪器中的其他测量结合使用(参见TLM-SCAN++)易于清洁的玻璃真空吸盘关闭盖子时自动开始测量 PROBE H......
这款晶圆自动四探针电阻率计是四点探针型的半导体晶圆和电阻薄膜的电阻率特性测量仪器,它采用微处理器电路直接计算出V/I数值,表面电阻率,薄片电阻率,晶片电阻率,金属化厚度,PN结类型测试。晶圆自动四探针电阻率计采用紧凑型设计,把电子电路和探针......
50多项国际四探针测试仪领域的专利,保证业内技术领先!1.业界最高重复性,重复性≤ ±0.02% (静态或者标准电阻); 2.扫描速度最快的四探针电阻率测试仪:一分钟49个测量点; 3.最......
美国4D公司的四探针/方块电阻/电阻率测试设备:280SI (最普及型号)· 测量尺寸:晶圆尺寸:2-8寸(333系列可测量大至12寸晶圆,1100系列可测量大至2160mmX2400mm平板系列)方形片:大至156mm......
FT-301系列自动导体粉末电阻率测试仪(多功能型)FT-301 Series intelligent powder resistivity test system (upgrade)一、概述Overview:采用一体化结构设计,将粉末比电......