JXA-iHP200F场发射电子探针显微分析仪2003年日本电子推出了世界首台商业化场发射电子探针(FE-EPMA),此后被广泛地应用于金属、材料、地质等各个领域,并获得了极高的赞誉。zei新研发的第三代场发射电子探针JXA-8530F P......
JXA-iSP200 电子探针显微分析仪可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器,组合使用WDS和EDS,能提供无缝、舒适的分析环境。产品特点:可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器,组合使用WDS和EDS,能提供无缝、舒适的......
软X射线分析谱仪软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度X射线CCD相机,实现了极高的能量分辨率。 和EDS一样可以并行检测,并且能以0.3eV(费米......
电子探针显微分析仪在钢铁、汽车、电子零件和电池材料等各种工业领域,作为研究开发和品质保证的分析工具被广泛使用,其用途越来越广。此外,在学术领域 ,地球空间科学、材料科学领域也在广泛使用,矿物等资源能源研究、各种新型材料研究等,期待在各种......
可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器,组合使用WDS和EDS,能提供无缝、舒适的分析环境。日本电子新开发出的EPMA (电子探针)秉承近半个世纪的EPMA的发展历史,JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户......
JXA-iHP200F场发射电子探针显微分析仪2003年日本电子推出了世界首台商业化场发射电子探针(FE-EPMA),此后被广泛地应用于金属、材料、地质等各个领域,并获得了极高的赞誉。zei新研发的第三代场发射电子探针JXA-8530F P......
肖特基场发射电子探针PlusJXA-iHP200F采用浸没式肖特基场发射电子枪,优化了角电流密度,能利用2 μA以上的大探针电流进行分析,还提高了分析条件下的二次电子像的分辨率。全自动进样系统操作简单高效。高级软件新开发了多种基于Windo......
全自动进样系统操作简单高效。肖特基场发射电子探针PlusJXA-iHP200F采用浸没式肖特基场发射电子枪,优化了角电流密度,能利用2 μA以上的大探针电流进行分析,还提高了分析条件下的二次电子像的分辨率。高级软件新开发了多种基于Windo......
高级软件新开发了多种基于Windows操作系统的软件,其中包括:能使痕量元素分析更加简便的“痕量元素分析程序”、能自动制作相图的“相图制作器”以及只需简单输入就能对表面凹凸不平样品进行测试的“不平坦样品的分析程序”等。备注:Windows7......
多功能样品室样品室的可扩展性强,配备了样品交换室,可以安装各种附件。 可以安装的附件• 电子背散射衍射系统(EBSD)• 阴极荧光检测系统• 软X射线分析谱仪• 不暴露在大气环境下的转移舱• 高蚀刻速率的离子源强力、清洁的真空系统高强力真空......