GW-4040,武汉敢为
GW-4040型XRF岩屑元素分析仪是利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。将X射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井是目前岩屑分析中最快速最便捷的技术,这项技术的......