PHI简介ULVAC-PHI为全球超高真空表面分析仪器供应商的ling导者,ULVAC-PHI创新的X射线光电子能谱技术(xps)、俄歇电子能谱技术(AES)、二次离子质谱技术等为客户在材料分析方面提供全面且du一无二的解决方案。所提供的仪......
利用 Thermo Scientific™ Theta Probe 角分辨 X 射线光电子能谱仪系统采集角分辨能谱,无须倾斜样品即可无损表征超薄薄膜新型技术产品所依赖的是固体近表面区域的设计。对于这种类型的材料,包括自组装单层、表面改性聚合......
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