SGC-10,港东
【仪器介绍】SGC-10型薄膜测厚仪,适用于介质,半导体,薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量,是天津港东与美国new-span公司合作研制的,采用new-span公司先进的薄膜测厚技术,基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数(折射......