产品描述TranSpec Micro新的光纤耦合TranSpec Micro薄膜厚度显微镜可以将薄膜厚度测量点的大小降到50-100um。测量点的图像可通过装在显微镜上的特殊彩色相机实时查看。TranSpec ......
产品描述TranSpec光谱仪结合光电技术与模拟/数字电子技术和计算机技术。借助于灵活的光纤,TranSpec的应用范围从标准的常规实验室分析到在线过程测量技术的特殊任务。使用FSMA标准光纤连接的高稳定性光电二级管阵列分光计使用spuri......
等离子体发射测量在紫外线…近红外线范围可同时观察到等离子发射低压等离子沉积技术是一个客观的连续不断的过程,如PVD(物理气象沉积)是今天真正的问题之一。除了等离子体发射光的表观检查,有时也使用质谱技术。但是质谱技术既不方便操作,其结果也不容......
技术特点光学方法,非接触、无损测量,安全无辐射。快速膜厚分析,只需几毫秒即可获得测量结果膜厚测量范围 0.1 - 150 微米 ( 0.004 to 6 mil )极高的分析准确度,在整个厚度测量范围......
德国BMT WLI VLA干涉仪德国BMT WLI VLA干涉仪可快色准确的测量粗糙和镜面反射工件的表面轮廓。可用于测量平整度、波纹度、扭曲、台阶高度和多种其他表面特性。产品特点:•粗糙和镜面反射表面的微观测量•平整度和轮廓测量•测量结果不......
WLI Infra干涉仪德国BMT WLI Infra干涉仪是用于硅薄膜的厚度测量设备。仪器适用于实验室、车间和生产线上的质量管理。测量头提供空前的重复性,设计坚固紧凑、免维护,适用于在线测量。产品特点:MEMS、硅梁、透明薄材料的非接触高......