F10-HC薄膜厚度测量仪 极具有价格优势的先进薄膜测量系统以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统,能够快速的分析薄膜 的反射光谱资料并提供测量厚度,加上F10-HC软件特有的先进模拟演算法的设计,能够在厚膜中测量单层......
【仪器介绍】SGC-10型薄膜测厚仪,适用于介质,半导体,薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量,是天津港东与美国new-span公司合作研制的,采用new-span公司先进的薄膜测厚技术,基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数(折射......
仪器用途简介:汽车钢板上的防锈油、滚轧润滑油等涂油量的测量耐指纹、润滑性钢板等有机油膜厚度的测量铝罐(易拉罐内壁)等有机膜涂布量的测量彩色钢板的底漆厚度及背面涂布量的测量其他金属上有机膜涂布量的测量技术参数:测量方法:红外反射吸收方式(旋转......
最近,德国LEICA推出了新一代薄膜测厚仪DRM1000以应对微电子,半导体产业的新高潮。该膜厚仪的先进性在于:--最小光斑可达1微米--既使用显微光谱反射法又能使用白光干涉法进行测量半导体薄膜厚度--德国LEICA顶尖的光学显微镜系统--......
Delta薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线。Delta根据反射回来的干涉光,用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3m......
仪器介绍 TF200薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线。TF200根据反射回来的干......
白光干涉仪概述Rtec 白光干涉仪在加利福尼亚硅谷制造。已被多个知名实验室、大学和行业使用。UP系列在一个头上组合了4种成像模式。能够在同一测试平台上运行多种测试,只需单击按钮,就能转换成像模式。这种组合可以轻松地对任何表面进行成像如透明、......
产品描述TranSpec Micro新的光纤耦合TranSpec Micro薄膜厚度显微镜可以将薄膜厚度测量点的大小降到50-100um。测量点的图像可通过装在显微镜上的特殊彩色相机实时查看。TranSpec ......
产品描述TranSpec光谱仪结合光电技术与模拟/数字电子技术和计算机技术。借助于灵活的光纤,TranSpec的应用范围从标准的常规实验室分析到在线过程测量技术的特殊任务。使用FSMA标准光纤连接的高稳定性光电二级管阵列分光计使用spuri......
等离子体发射测量在紫外线…近红外线范围可同时观察到等离子发射低压等离子沉积技术是一个客观的连续不断的过程,如PVD(物理气象沉积)是今天真正的问题之一。除了等离子体发射光的表观检查,有时也使用质谱技术。但是质谱技术既不方便操作,其结果也不容......