日立 FIB-SEM三束系统NX2000产品介绍:追求最完美的TEM样品制备工具在尖端设备及高性能纳米材料的评价和分析领域,FIB-SEM已成为不可或缺的工具。近来,目标观察物更趋微细化;更薄,更低损伤样品的制备需求更进一步凸显。日立高新公......
产品简介 原子分辨率300 kV透射电子显微镜 在精细加工技术已进入到亚纳米级水平的半导体,先进材料的研发领域,原子分辨率电子显微镜正在成为日益重要的,不可或缺的工具。 为了满足这种高端需求,日立高新技术公司研发出了 H-950......
产品简介 日立发布的200kV球差校正透射电镜HF5000,具有高稳定冷场发射电子枪,自动球差校正器,可一键操作实现自动球差校正,HAADF-STEM分辨率可以达到0.78埃;可配置EDS双探头,固体角最大可达2.0sr;具备TEM、S......
产品简介日立驰名的冷场发射电子源和300 kV加速电压技术共同打造了超高分辨率成像和高灵敏度分析功能。双棱镜全息技术,空间分辨电子能量损失谱以及高精度平行纳米电子束衍射技术开辟了高效,高精度样品分析的新途径。分辨率:0.1 nm(晶体点阵)......
产品简介专用扫描透射显微镜HD-2700,配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪,显著提高了扫描透射电子显微镜的性能,更适合高级纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差......
产品简介日立新一代全数字化120kV透射电子显微镜HT7800,属于日立瑠璃系列产品Ruli TEM,操作的一体化和自动化程度都有明显提高。HT7800系列产品有两个型号HT7800和HT7830。 HT7800系列......
专用扫描透射显微镜HD-2700,配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪,显著提高了扫描透射电子显微镜的性能,更适合高级纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差,使其与......
日立驰名的冷场发射电子源和300 kV加速电压技术共同打造了超高分辨率成像和高灵敏度分析功能。双棱镜全息技术,空间分辨电子能量损失谱以及高精度平行纳米电子束衍射技术开辟了高效,高精度样品分析的新途径。分辨率:0.1 nm(晶体点阵)0.19......
原子分辨率300 kV透射电子显微镜在精细加工技术已进入到亚纳米级水平的半导体,先进材料的研发领域,原子分辨率电子显微镜正在成为日益重要的,不可或缺的工具。为了满足这种高端需求,日立高新技术公司研发出了 H-9500透射电子显微镜,此款高分......
日立新一代全数字化120kV透射电子显微镜HT7800,属于日立瑠璃系列产品Ruli TEM,操作的一体化和自动化程度都有明显提高。HT7800系列产品有两个型号HT7800和HT7830。 &......