2016年新年伊始,日本电子株式会社(JEOL)即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合......
CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子显微镜,专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的样品,可进行单颗粒分析、断层扫描和MicroED等实验。与上一代CRYO ARM™ 300相比,具有更高的稳定性、效率和易用性。产品特点:高......
JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了最高加速电压为300kV的场发射电子枪(FEG)和镜筒内置式Ω型能量过滤器,能为广泛的研究领域提供各种全新的解决方案。镜筒内置式Ω型能量过滤器(omega 过滤器)镜筒内置式Ω型能量过滤器内置于成像......
JEM-2100Plus电子显微镜,不仅拥有信誉卓著的JEM-2100 的电子光学系统,还增加了最新的控制系统,大幅提高了可操作性。 多功能电子显微镜JEM-2100Plus性能优越,操作方便,简明易懂,在材料、医学、生物学等多个研究领域提......
JEM-1400Flash配备了高灵敏度sCMOS相机、超广视野的蒙太奇系统以及光学显微镜图像的联动功能,是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射电子显微镜。◇ 高灵敏度sCMOS相机 —瞬Flash相机JEOL制造的高灵......
由于超高压透射电子显微镜的加速电压很高电子波长很短,即使增大物镜极靴之间的间隙,也能获得高分辨率的图像。此外,电子束具有很强的穿透能力,即使厚样品也能观察到清晰的图像,这是超高压透射电子显微镜的最大优点。为全球的高校和科研机构所使用的超高压......
CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 场发射冷冻透射电子显微镜CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子显微镜,专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的样品,可进行单颗粒分析、断层扫描和MicroED等实验。◆&......
技术参数:1.分辨率:STEM图像分辨: 0.071 nm TEM点分辨:0.19 nm (0.11 nm with TEM Cs corrector) &nb......
日本电子株式会社2010年7月zei新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到zei新球差校......
透射电镜使用电子穿透样品成像,实际上入射电子在穿越样品时会与样品发生复杂的相互作用,如果使用全部的透射电子成像,必然在细节上出现假象、失真甚至某些信息被掩盖。JEM-2200FS采用欧米伽能量过滤器,让透过电子穿......