产品概述:Vion PFIB 是一款具有高精度、高速度切割和铣蚀能力的仪器。 其具有选择性铣蚀所关注区域的能力。 此外,PFIB 可以选择性沉积带图案的导体和绝缘体。 高速铣蚀和精密控制的结合可确保该系统以多种方法应用于集成电路的制造,如:......
FEI Talos F200X 融合了出色的高分辨率扫描/透射电子显微镜 (STEM) 和 TEM 成像功能与行业ling先的能量色散 X 射线光谱仪 (EDS) 信号检测功能及基于成分测绘的三维化学表征功能。Talos F200X 可在所......
Apreo 复合透镜设计结合了静电和磁浸没技术,可产生前所未有的高分辨率和信号选择。这使得 Apreo 成为研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台,并且不会降低磁性样品性能。Apreo 受益于独特的透镜内背散射探测,这种探测提供卓越......
Titan ETEM G2 是我们专用的环境 TEM 平台,设计用来观测功能性纳米材料及其随着时间的推移对气体和温度刺激的响应。凭借du一无二的差动泵目镜,标本区可变身为实验室,展开对催化剂微粒、纳米器件和其他材料的研究,进而在原子级别洞察......