综合概述 SM230是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研 制而成的自动薄膜厚度测绘仪。它利用波长范围最宽 为200-1700nm的光垂直入射到薄膜表面,只要薄膜有 一定程度的透射,SM230就......
综合概述SM280是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研制而成的显微薄膜厚度测绘仪。 它利用波长范围最宽为200-1700nm的光垂直入射到薄膜表面,只要薄膜有一定程度的透射,SM280就能根据反射回来的干涉光谱拟合计算出薄膜的厚度,其厚度最大......
综合概述 SM200是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研 制而成的自动薄膜厚度测绘仪。它利用波长范围最宽 为200-1700nm的光垂直入射到薄膜表面,只要薄膜有 一定程度的透射,SM200就......
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LB-180涂镀层测厚仪产品介绍涂层测厚仪仪器配置序号名称数量备注标准配置1主机1台2F1测头1只或N1测头3校准片5片4校零基体1块根据测头选配5仪器箱1只6随机资料1份7AA(5号)尺寸碱性电池2只可选配置8其它类型测头根据用途选择9数......
LB-220便携式覆层测厚仪产品介绍测厚仪(thickness gauge )是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透......