F10-RT薄膜厚度测量仪同时测量反射和透射以真空镀膜为设计目标,F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分,用户就能进行低/高分析、确定 FWHM 并进行颜色分析。可选的厚度和折射率模块让您能够充分利用 F......
F3-sX 系列薄膜厚度测量仪满足薄膜厚度范围从15nm到3mm的先进厚度测试系统 F3-sX家族利用光谱反射原理,可以测试众多半导体及电解层的厚度,可测大厚度达3毫米。此类厚膜,相较于较薄膜层表面较粗......
F32薄膜厚度测量仪在线测量的解决方案使用F32可以简单快速地在线测量膜厚。从对膜的顶部和底部反射光谱进行分析可得到实时厚度信息。F32先进的光谱分析系统采用半宽的3U rack-mount底盘,加上附加的分光计,可达到四个不同的位置(EX......
Filmetrics-F40薄膜厚度测量仪-膜厚仪 结合显微镜的薄膜测量系统Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系统  ......
DJH Designs 膜厚仪DJH Designs 系统属性DJH Designs 膜厚度测试系统从使用简单出发结合功能与准确性为干膜厚度的测量建立了一个新的标准。这个系统是功能化的,它不仅使用简单而且还囊括......
MEK 摩擦测试仪 新一代的 MEK 摩擦测试仪进一步提高了测试结果的准确性。在线操作者和质量控制人员每次都能通过这个半自动仪器在实验室与生产线之间复制结果。操作者通过前面板镶嵌的按钮简单地设置测试次......
湿海绵技术是在湿海绵加上低电压。海绵在涂层上移动,遇到缺陷时,液体会渗入基体,形成一个完整的电路回流,可引发报警。适合探测导电基体上500μm以内的绝缘涂层,湿海绵技术适用于粉末涂层和其它不想被破坏的涂层的检测。美国DeFelsko公司Po......
测量将单位面积的涂层从基体分离所需要的拉力,以MPa或psi表示,符合ASTM D4541/D7234, ISO 4624/16276-1, AS/NZS 1580.408.5标准。可选择*新全自动型PosiTestATAPosiTestA......
测量将单位面积的涂层从基体分离所需要的拉力,以MPa或psi表示,符合ASTM D4541/D7234, ISO 4624/16276-1, AS/NZS 1580.408.5标准。自动加载方式提供更为方便的操作,如被测物在高处或测量环境比......
Ultra-100清洁和单分子层成膜机集成了清洁和单分子层气态成膜功能与一体,可以用于纳米压印模具和基板提供单分子层分辨能力的成膜和清洁任务,也可以广泛用于其他需要真空,紫外,加热,成膜的各种应用,诸如光刻模具的清洁和成膜处理等。Ultra......