J-1500,日本分光
特征J-1500允许最大的灵活性,以不同的测量技术升级您的CD系统。虽然标准测量模式是CD,LD和吸光度,但当与各种附件组合时,可以同时测量多达四个模式。这些附件可以测量各种样品,从液体到薄膜到固态。温度控制系统可以与多个样品池加热,为研究......
CPL-300,日本分光
概要手性等化合物在单色光激发下,发射出左右圆偏振光强度不同,这样的现象被叫圆偏振发光现象(CPL)。常规的ECD测量可得到基态手性分子的信息,而CPL能够测量得到激发态手性物资的信息。 CPL-300使用由Steinberg提出的......