Apreo功能最为丰富的高性能 SEMApreo 复合透镜结合了静电和磁浸没技术,可产生前所未有的高分辨率和材料对比度。Apreo 是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台,而不会降低磁性样品性能。传统的高分辨率 SEM 透镜技术分......
TESCAN MAGNA 新一代超高分辨场发射扫描电镜 TESCAN MAGNA 是一款功能极其强大的分析仪器,适用于纳米材料的形貌表征以及微观分析。TESCAN MAGNA 配置 Triglav™ ......
TESCAN CLARA 是一款适用性非常广泛的扫描电子显微镜,能够满足各个科研和技术领域对不同材料进行高质量成像和表征的需求。TESCAN CLARA 使用了 TESCAN BrightBeam™ 型 SEM 镜筒,该镜筒配置了可变比例式......
具备优异性能的SEM,适用于纳米及亚纳米级别的空间分辨率应用 纳秒级的T1闪烁体探测器,获取卓越的背散射电子衬度图像 大工作距离(10mm)下具备出色的空间分辨率Apreo 2 SEM场发射扫描电镜一款具备优异性能的多功......
Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能场发射扫描电子显微镜(扫描电镜)搭载独特的实时元素成像功能和先进的自动光学系统,实现灰色区域解析,让您不再忧心显微镜性能,更加专注于研究本身。Thermo Scientific......
JIB-4700F 双束加工观察系统随着先进材料构造的微细化和制造过程的复杂化,形貌观察、元素分析和晶体分析等的评估技术也对分辨率和精度有了更高的要求。为了满足这些需求,JEOL推出新一代双束加工观察系统JIB-4700F。 该设备的SEM......
JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统JIB-4000聚焦离子束加工观察系统配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。被加速了的镓离子束经聚焦照射样品后,就能对样品表面进行SIM观察 、研磨,沉积碳和钨等材料。还可以为TEM成像制备薄膜样......
Thermo ScientificTM Apreo SEM 具有多功能性和高质量成像性能,即使是磁性样品或是传统意义上成像非常困难的样品也可以 实现极佳成像性能,因而备受赞誉。全新 Apreo 2 SEM 在原有性能基础之上,进一......
'InspectTM系列满足传统高分辨率样品研究所需的一切,简单易用的 InspectTM 专为满足研究各类材料以及表征材料结构和成分的主流需求而设计,配备高稳定分辨率平台,可满足大多数研究的需要。简单易用的界面可实现准......
二十多年来,基于日渐完善的Gemini技术,GeminiSEM具有完整高效的检测系统、极高的分辨率以及简便的操作方式。Gemini物镜设计将静电场与磁场结合,可在最大限度地提升光学性能的同时将场发射对样品的损伤降至最低。此设计确保了极佳的成......