用于大件样品和多层膜样品的非破坏分析 M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪,可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围:原子序数22号(钛)-92......
PCB分析的理想解决方案开槽台式微区XRF光谱仪 M2 BLIZZARD M2 BLIZZARD是布鲁克公司推出的一款微区X射线荧光光谱仪,依据ASTMB568和DIN/ISO 3......
微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。M4 TORNADO采用了技术,为各种用户提供了佳的分析性能和方便的操控性。· 采用多导毛细管聚焦镜,照射光斑小,......
M1 ORA 是专门适用于珠宝行业的台式微区X射线荧光光谱仪(μ-XRF)。结构紧凑,占用空间小。技术参数:参数 规格光源 高性能微焦斑光管,钨靶,玻璃窗电压、功率 40 kV、40 W探测器 大面积正比计数器 1100mm2 感应面积光斑......
PCB分析的理想解决方案开槽台式微区XRF光谱仪 M2 BLIZZARD M2 BLIZZARD是布鲁克公司推出的一款微区X射线荧光光谱仪,依据ASTMB568和DIN/ISO 3......
Fischerscope X-RAY XAN500 是一款可移动使用并且应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪,它特别适用于镀层厚度的无损测量及材料分析。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。典型的应用领域有:测量大型......
FISCHERSCOPE X-RAY XUL220是一款性能卓越、设计紧凑、应用广泛的X射线荧光镀层及材料分析仪。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来料检验及生产过程控制中测量使用。典型的应用领域有:在小部件......
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。它是由大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型仪器上发展而来的。与上一代相类似,它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和......
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是专为测量印制电路板上镀层厚度及成分分析而设计的入门级、耐用型测量仪。微聚焦X射线管配合比例接收器能够产生高计数率信号,以此造就了高精度的测量。出色的准确性及长期的稳定性是FI......
X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,配有可编程运行的 X/Y 轴工作台和 Z 轴升降台,用于自动测量超薄镀层厚度或进行痕量分析。FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD®是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析......